GB/T2423.1是GB/T2423標(biāo)準(zhǔn)的*部分，GB/T2423標(biāo)準(zhǔn)的組成部分見資料性附錄NA。

本部分等同采用IEC60068-2-1《環(huán)境試驗(yàn)  第2-1部分:試驗(yàn)  試驗(yàn)A：低溫》（英文版）

本部分與IEC60068-2-1:2007相比，主要做了下列編輯性修改：

---本部分為的名稱改為：《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)  第二部分：試驗(yàn)方法  試驗(yàn)A：低溫》

---“本標(biāo)準(zhǔn)”一詞改為“本部分”；

---刪除了IEC60068-2-1:2007前言；

---刪除了IEC60068-2-1:2007引言，將其內(nèi)容轉(zhuǎn)化為增的資料性附錄NB的內(nèi)容；

---增加了資料性附錄“GB/T2423標(biāo)準(zhǔn)的組成部分”（見附錄NB）；

---增加了資料性附錄“試驗(yàn)A:低溫和試驗(yàn)B：高溫的分類代號小寫字母之間的關(guān)系”（見附錄NB）

---刪除了第1章第1段中的“對于非散熱試驗(yàn)樣品”；

---第1章中zui后兩段的內(nèi)容移到4.1中；

---4.3標(biāo)題“非散熱試驗(yàn)樣品”改為“非散熱試驗(yàn)樣品的試驗(yàn)”；

---6.2zui后一段原文為正文，本部分改為注。

為清晰起見，上述修改已在正文相應(yīng)位置加了腳注。

本部分代替GB/T2423.1-2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)  第2部分：試驗(yàn)方法  試驗(yàn)A：低溫》，與之相比，主要變化如下：

---刪除了試驗(yàn)Aa：非散熱試驗(yàn)樣品溫度突變的低溫試驗(yàn)；

---刪除了附錄A、附錄B、附錄C、附錄D、附錄E；

---增加了試驗(yàn)Ae：散熱試驗(yàn)樣品溫度漸變的低溫試驗(yàn)一試驗(yàn)樣品在整個試驗(yàn)過程通電。

本部分的附錄NA、附錄NB為資料性附錄。

本部分由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會（SAC/TC8）提成并歸口。

本部分有廣州電器科學(xué)研究院負(fù)責(zé)起草。

本部分主要起草人：張志勇。

本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為；

-------CB/T2423.1一1981、CB/T2423.1一1989、CB/T2423.1一2001.